On the nature of carrier states around the fermi level at the LAO/STO interface

2020; Cambridge University Press; Linguagem: Inglês

ISSN

0003-0503

Autores

L. Chioncel, Tobias Strobl, Patrick Sailer, Daniel Braak, Thilo Kopp,

Tópico(s)

Semiconductor materials and devices

Referência(s)