XPS evidence for band bending at semiconducting oxide surfaces
1982; Elsevier BV; Volume: 122; Issue: 3 Linguagem: Inglês
10.1016/0039-6028(82)90088-7
ISSN1879-2758
Autores Tópico(s)Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
Referência(s)1982; Elsevier BV; Volume: 122; Issue: 3 Linguagem: Inglês
10.1016/0039-6028(82)90088-7
ISSN1879-2758
Autores Tópico(s)Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques
Referência(s)