Artigo Revisado por pares

XPS evidence for band bending at semiconducting oxide surfaces

1982; Elsevier BV; Volume: 122; Issue: 3 Linguagem: Inglês

10.1016/0039-6028(82)90088-7

ISSN

1879-2758

Autores

Roger St. C. Smart,

Tópico(s)

Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques

Referência(s)
Altmetric
PlumX