X-ray photoelectron diffraction (XPED) patterns from
1984; Elsevier BV; Volume: 34; Issue: 3 Linguagem: Inglês
10.1016/0368-2048(84)80066-3
ISSN1873-2526
AutoresMasanori Owari, Masahiro Kudo, Yoshimasa Nihei, Hitoshi Kamada,
Tópico(s)X-ray Diffraction in Crystallography
Referência(s)