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Elektronenmikroskopische Untersuchungen an aufgedampften Nickelfilmen

1963; De Gruyter; Volume: 18; Issue: 11 Linguagem: Alemão

10.1515/zna-1963-1110

1865-7109

R. Suhrmann, R. Gerdes, G. Wedler,

Electron and X-Ray Spectroscopy Techniques

Die Ausmessung von Stereoaufnahmen der Oberflächenabdrucke von Ni-Filmen führt zu Rauhigkeitsfaktoren in der Größe der aus Adsorptionsmessungen erhaltenen. Die aus Elektronen-Beugungs-aufnahmen der Filme berechnete Gitterkonstante verringert sich mit abnehmender Temperungstemperatur. Die Filme zeigen eine mit zunehmender Temperungstemperatur stärker hervortretende [111]-Orientierung. Filme von etwa 60 Å Schichtdicke lassen keine Textur erkennen. Bei höher getemperten Filmen von ca. 3 μ Dicke werden Kristallite mit {001}-, {011}-, {111}- und {112}-Flächen parallel zur Unterlage nachgewiesen.