
Chemical inspection and elemental analysis of electronic waste using data fusion - Application of complementary spectroanalytical techniques
2020; Elsevier BV; Volume: 225; Linguagem: Inglês
10.1016/j.talanta.2020.122025
ISSN1873-3573
AutoresDaniel Fernandes Andrade, Eduardo de Almeida, Hudson Wallace Pereira de Carvalho, Edenir Rodrigues Pereira‐Filho, Dulasiri Amarasiriwardena,
Tópico(s)Laser-induced spectroscopy and plasma
Referência(s)