Artigo Acesso aberto Produção Nacional Revisado por pares

Chemical inspection and elemental analysis of electronic waste using data fusion - Application of complementary spectroanalytical techniques

2020; Elsevier BV; Volume: 225; Linguagem: Inglês

10.1016/j.talanta.2020.122025

ISSN

1873-3573

Autores

Daniel Fernandes Andrade, Eduardo de Almeida, Hudson Wallace Pereira de Carvalho, Edenir Rodrigues Pereira‐Filho, Dulasiri Amarasiriwardena,

Tópico(s)

Laser-induced spectroscopy and plasma

Referência(s)
Altmetric
PlumX