Voltar
Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

TEM Investigation of the Transformation During Annealing in Electroless Ni-P Films/ Elektronenmikroskopische Untersuchung der Umwandlungen während der Auslagerung stromlos abgeschiedener Ni-P-Filme

1989; De Gruyter; Volume: 80; Issue: 8 Linguagem: Alemão

10.1515/ijmr-1989-800805

ISSN

2195-8556

Autores

Ramesh Chandra Agarwala, Subrata Ray,

Tópico(s)

Copper Interconnects and Reliability

Referência(s)