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Artigo Revisado por pares
BIBTEX RIS

Nanoelectronic architectures

2005; Springer Science+Business Media; Volume: 80; Issue: 6 Linguagem: Inglês

10.1007/s00339-004-3154-4

ISSN

1432-0630

Autores

Gregory L. Snider, Philip J. Kuekes, Tad Hogg, R. Stanley Williams,

Tópico(s)

Radiation Effects in Electronics

Referência(s)
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Applied Physics A
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