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Materiales cerámicos texturados Pb_xBi₄Ti_3+xO_12+3x (x=0,1,2,3). Parte II: Propiedades dieléctricas

1999; Elsevier BV; Volume: 38; Issue: 6 Linguagem: Espanhol

10.3989/cyv.1999.v38.i6.895

2173-0431

Luis Lascano, A. C. Caballero, M. Villegas, C. Moure, P. Durän, J.F. Fernández,

Smart Materials for Construction

Se han estudiado las propiedades dielŽctricas de los materiales cer ‡micos Bi 4 Ti 3 O 12 (BIT), PbBi 4 Ti 4 O 15 (PBIT), Pb 2 Bi 4 Ti 5 O 18 (P2BIT) y Pb 3 Bi 4 Ti 6 O 21 (P3BIT), en muestras no texturadas y texturadas.Estos compuestos pertenecen a la familia Aurivillius de compuestos laminares de bismuto, y en el presente caso el factor de integraci-n m toma los valores de 3, 4, 5 y 6 respectivamente.Los resultados muestran un claro efecto de la texturaci-n en la constante dielŽctrica de los materiales analizados, obteniŽndose variaciones de un orden de magnitud entre las dos direcciones del campo elŽctrico aplicado.Se observa una variaci-n de la temperatura de Curie de la muestra texturada respecto a la no orientada en compuestos con m par.Adem ‡s, la temperatura de Curie decrece con el aumento de m.Un comportamiento claramente relaxor aparece en los materiales P2BIT y P3BIT, con los valores m ‡ximos de constante dielŽctrica ubicados a ~270 y ~225 ¼C respectivamente, temperaturas que, comparadas con la de 140¼C del compuesto relaxor PZN, abren perspectivas de aplicaci-n de estos materiales en piezoelŽctricos inducidos de alta temperatura.Palabras clave: