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BIBTEX RIS

Processamento de dados de condutividade elétrica pela técnica de quatro pontas para avaliação da microestrutura dos materiais

2023; Brazilian Journal of Development; Volume: 9; Issue: 05 Linguagem: Português

10.34117/bjdv9n5-022

2525-8761

Iasmin Camargo Mathias, Clarisse da Costa Rufino, Wellington Mattos Pires, Talita Gama de Sousa, Luiz Paulo Mendonça Brandão, Andersan dos Santos Paula,

Non-Destructive Testing Techniques

A demanda por novos materiais torna necessário o desenvolvimento de métodos de análise microestrutural para avaliar as propriedades dos materiais. O objetivo deste trabalho é o desenvolvimento de um software que, por intermédio da aquisição e do tratamento de dados, correlaciona a condutividade elétrica e a microestrutura de um material. Para isso, foi construído um software em LabVIEW que recebe tanto as informações geométricas da amostra quanto sobre as medidas de tensão obtidas por um voltímetro de alta precisão, a fim de transformar esses dados em medidas de condutividade elétrica. Para avaliar o software, foi realizada a preparação, análise metalográfica e a medição da condutividade elétrica de duas amostras de aço livre de intersticiais (IF): laminada e tratada termicamente. A partir das micrografias obtidas pelo microscópio óptico e dos valores de condutividade encontrados pelo software, observou-se que a condutividade calculada estava coerente com a microestrutura das amostras. A demanda por novos materiais torna necessário o desenvolvimento de métodos de análise microestrutural para avaliar as propriedades dos materiais. O objetivo deste trabalho é o desenvolvimento de um software que, por intermédio da aquisição e do tratamento de dados, correlaciona a condutividade elétrica e a microestrutura de um material. Para isso, foi construído um software em LabVIEW que recebe tanto as informações geométricas da amostra quanto sobre as medidas de tensão obtidas por um voltímetro de alta precisão, a fim de transformar esses dados em medidas de condutividade elétrica. Para avaliar o software, foi realizada a preparação, análise metalográfica e a medição da condutividade elétrica de duas amostras de aço livre de intersticiais (IF): laminada e tratada termicamente. A partir das micrografias obtidas pelo microscópio óptico e dos valores de condutividade encontrados pelo software, observou-se que a condutividade calculada estava coerente com a microestrutura das amostras.