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Capítulo de livro Revisado por pares
BIBTEX RIS

Electrical Characterization of Interface States at Schottky Contacts and MIS Tunnel Diodes

1989; Springer Nature; Linguagem: Inglês

10.1007/978-1-4613-0795-2_14

ISSN

0258-1221

Autores

J.H. Werner,

Tópico(s)

Semiconductor materials and devices

Referência(s)